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脉冲激光器对CCD探测器的影响

脉冲激光器对CCD探测器的影响

分类:
技术支持
作者:
北京林阳智能
来源:
www.lyige.com
评论:

CCD器件是集光电转换、电荷存储、电荷传输等功能于一体的光电成像器件,广泛应用于摄像、监控、测量等领域。由于激光光源具有亮度高、方向性好等特点,是的CCD器件极易受到强激光的干扰甚至损伤。相关的研究工作主要集中于连续激光和脉冲激光。随着脉冲激光在各个领域的应用增多,我们有必要开展脉冲激光对CCD探测器的影响的研究。

与连续的激光相比,脉冲激光具有较高的功率,容易造成CCD器件的硬损伤,硬损伤机理与脉冲宽度及能量密度大小有关。对于脉冲激光,脉冲宽度远大于电子和离子的能量交换时间以及电子的热传导时间,CCD像元表面硬损伤主要由激光加热作用和等离子体冲击波作用引起,而对于亚皮秒脉冲激光,情况有所不同。由于CCD器件最易受损伤主要由激光加热作用和等离子体冲击波作用引起,而对于亚皮秒脉冲激光,情况有所不同。

 

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